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原位拉伸冷熱臺 JK-LS500采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃溫度下材料的動態應力應變特性測試，可與顯微分析、電學分析相結合。原位拉伸冷熱...

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-100~50℃ (高溫以實際數...

探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式，實現RT~600℃范圍內精準控...

探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~60...

半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環水散熱，實現從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點...

半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環液，實現從-40到180℃（選型）的控溫。

JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導體的熱-電效應制冷，配合循環水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內進行控溫，實現樣品在開放式 / 氣...

Instruments拉伸機冷熱臺拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190...

光學熱臺JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。

光學冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。

光學冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學性能測試而設計的產品，可表征樣品光學性能隨溫度變化的特征。

-190~400℃納米級控制精度探針電動控制結構緊湊 適用真空環境詳細參數

探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或...

JK-600CH190P4D型外部調節探針冷熱臺

JKGX-190型光學測試冷熱臺采用液氮制冷和電熱絲加熱方式，可以在-190℃~600℃范圍內進行溫度和環境控制，搭配其他儀表進行電學、光學等測試。

JK-XRD原位冷熱臺是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~100...

冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩定后溫控...

JK-SEM1900原位拉伸冷熱臺是在SEM(掃描電子顯微鏡)下的一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。

JK-CGLS190原位拉伸冷熱臺是一款研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（選型）或RT~10...

JK-LSJ1900T拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應力應變測試的產品。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃（...